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挑戰傳統的測試方法,xyztec研發團隊開發了許多創新技術,這些技術提供了多種改進推拉力測試的方法。 其中一些開發受到歐洲,美國,中國,台灣和/或其他地區的專利保護。 其中包括:
感測器裝置用於測定感測器輸出由於蠕變引起的變形,感測器裝置所包括的力係指為該感測器所施加的機械應力,即感測器用於測量電流,由該施加力引起的感測器位移和處理器元件的位移,用於確定該感測器下一次測量的蠕變引起的變形。
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一種用於測試粘合到基板的半導體芯片強度的推力測試工具。 推力模塊是可自動對準晶片,並且由柔軟的材料製成,以最大程度地減少測試負載對晶片造成的應力,從而減少或消除對晶片的損壞。 可以進行不同的推力模塊設計以適應不同的應用,可以對樣品推面進行量身定制以測試單一晶片,或彼此非常緊密靠置的晶片或堆疊的晶片。 推面的深度可能小於晶片的厚度,以確保在測試過程中粘結面不會因推力模塊而損壞。
Links: Espacenet, Google, EP-register, BPP eRegister.
本發明提供一種如何清潔錫球拉力測試中,所使用的夾子內部殘錫的方法。 該方法包括以下步驟:將氣體加熱到高於殘錫的熔化溫度,並將加熱的氣體引導到錫球拉力測試的夾子上方以從所述夾子內部去除殘錫。 還公開了一種用於執行該方法的設備。
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本發明用於提高測量力的變化幅度精度的方法,其中稱力是透過感測器位置的一部分變化來測量的,該變化是力的函數。它還提供了一種可以減少不利影響的方法,通常稱為”ringing”或”artefacts”,當任何類型的信號被過濾。
Links: Espacenet, Patentscope
推拉力機是一種用於測定粘結於基座上材料強度的測試儀,推拉力機包括用於對該材料施加剪切力的力測量模組,以及一個位移模組,和用於控制力測量模組與位移模組之間距離的控制器,以便可以設置剪切工具的剪切高度。
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一種校準材料測試儀感測器的方法,其中,上述感測器被安排測量上述材料測試儀工具應用於樣品的剪切力,例如晶圓或印刷電路板,上述材料測試儀包括剪切感測器組成,其中上述感測器可安裝在剪切感測器上,上述方法包括加速剪切感測器在預定義距離內接近或遠離樣品 ; 進行量測,透過該感測器,該安裝的剪切感測器的相對運動 ; 校準該測量相對運動剪切感測器的加速度,從而測試該感測器的運作。
xyztec的其他幾項專利尚未發布。
Clyde Chen
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