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我們的開放軟體附有2個等級的簡單編程，可讓操作員和工程師輕鬆掌握。
使用即時相機可輕鬆編輯測試程序，該即時相機可直接觀看演練順序，以教導自動化過程步驟，位置和命令，以實現完美的對位和準確的測試。
節省時間並從簡易模式開始編輯程式。 可選擇切換到專業模式，並添加更複雜的功能以實現最佳定制化。
輕鬆輸入或輸出不同wafer map檔案格式,例如: KLARF, (S)INF, G85,或是其他格式讓你可以完整地追溯. 缺陷或測試位置顯示在wafer map中，直接點取畫面可自動移動至點選位置來進行測試或分析。
使用2D條碼讀取器來快速啟動測試程式。 掃描QR碼或條碼後，將自動開啟自動化，測試方法或表單。
為了獲得更好的可追溯性，您可以使用自定義表格來存儲其他數據以及測量結果。
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