簡易編程

自動化測試

就這麼簡單！

我們的開放軟體附有2個等級的簡單編程，可讓操作員和工程師輕鬆掌握。

使用即時相機可輕鬆編輯測試程序，該即時相機可直接觀看演練順序，以教導自動化過程步驟，位置和命令，以實現完美的對位和準確的測試。

一般: 移動，感測器選擇，表面檢測，等待，註解
測試: 方法，位置，勾針校正，高度下限
標記: 標靶/對位（全區和局部），使用矩陣選擇，設置偏移量
控制/輸出: 鑷子，真空閥，清潔裝置，輸出形式定義
相機/光源: 照相/攝影機，光源

節省時間並從簡易模式開始編輯程式。可選擇切換到專業模式，並添加更複雜的功能以實現最佳定制化。

測試區塊選擇

行和列
特定或隨機位置
透過SECS / GEM等通訊協定,傳送預先設定的測試位置！

Wafer MAP 導入

輕鬆輸入或輸出不同wafer map檔案格式,例如: KLARF, (S)INF, G85,或是其他格式讓你可以完整地追溯. 缺陷或測試位置顯示在wafer map中，直接點取畫面可自動移動至點選位置來進行測試或分析。

條碼讀取器

使用2D條碼讀取器來快速啟動測試程式。掃描QR碼或條碼後，將自動開啟自動化，測試方法或表單。

表單

為了獲得更好的可追溯性，您可以使用自定義表格來存儲其他數據以及測量結果。

荷蘭

J.F. Kennedylaan 14b

5981 XC

Panningen

The Netherlands

德國

Am Haupttor / Bürocenter

06237

Leuna

Germany

美國

27182 Burbank
Foothill Ranch
CA 92610
United States

亞太地區

72/7 M.12 Soi. Soonthornwipak

Bangpla, Bangphli,

10540 Samut Prakan

Thailand

台灣

No. 157, Zhongzheng

6th St., Hukou

Township, Hsinchu

County 303,

Taiwan (R.O.C.)

蘇州

Room 2012

Haichuang Mansion,

No.288 Dengyun Road,

High-tech district, Kunshan,

Jiang Su, China

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