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奈米控制推力感測器具有一個獨特的驅動器，其在推力感測器體內形成了一個封閉的控制環路。它在測試像晶片級、塗層和導線框架等關鍵應用時，提高了推力高度的精度和穩定性，精度達到200奈米
機械手臂的操作可確保安全的上料和下料的應用程序，並避免人為操作錯誤和損壞。 我們提供以下各種運用的自動上下料系統:
開放式Sigma軟體可輕鬆對全部自動化的每一步驟，位置和命令進行程式編輯。 自動化編輯器採用攝影機,直接視覺化和智慧型步驟引導。
多達3個即時攝影機選配,可看見一般看不到的角度。 使用高解析相機，靈活的LED照明和出色的影像處理選配，帶給您感興趣的影像或影片功能。
精確的工具對位,對於測試正確的位置至關重要。 我們提供幾種解決方案，以實現完美的工具對位：
將可識別的形狀，圖案或標記定義為用於定位和工具自動對位在全區域或單一區域的參考。
識別由於製程公差或晶片貼合而產生位置偏移的元件和超細間距的金線。
Sigma提供2種解決方案，使失效模式評級更加有效和一致：
在分級軟體幫助下,自動對測試結果的圖像,進行失效模式分級。 光學檢查並計算殘餘的錫/金/銅料面積佔整體的百分比。
詳細的光學檢查可幫助您執行圖像測量或擷取測試結果的失效模式。 要進行更高級的影像處理，過濾，分割和形狀檢測，可以使用自動光學檢查（AOI）功能。
使用自動匯出和SECS / GEM進行追蹤和控制，改善數據處理。
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