Sigma

推拉力
測試機

堅若磐石的推拉力機

具備改變品管QC遊戲規則的  自動化能力

Sigma 推拉力測試機

堅若磐石的推拉力機搭配

改變品管QC遊戲規則的自動化能力

奈米級推力高度控制

奈米控制推力感測器具有一個獨特的驅動器,其在推力感測器體內形成了一個封閉的控制環路。它在測試像晶片級、塗層和導線框架等關鍵應用時,提高了推力高度的精度和穩定性,精度達到200奈米

Nano-control-shear-sensor---SMU

改變品管QC遊戲規則的自動化能力

自動上下料系統

機械手臂的操作可確保安全的上料和下料的應用程序,並避免人為操作錯誤和損壞。 我們提供以下各種運用的自動上下料系統:

  • Wafers (EFEM)
  • Waffle trays
  • Magazines

簡易編程

開放式Sigma軟體可輕鬆對全部自動化的每一步驟,位置和命令進行程式編輯。 自動化編輯器採用攝影機,直接視覺化和智慧型步驟引導。

智慧型視覺攝影機

多達3個即時攝影機選配,可看見一般看不到的角度。 使用高解析相機,靈活的LED照明和出色的影像處理選配,帶給您感興趣的影像或影片功能。

工具對位

精確的工具對位,對於測試正確的位置至關重要。 我們提供幾種解決方案,以實現完美的工具對位:

  • 自動對位推刀
  • 深腔產品測試
  • 六合一旋轉測量單元
  • 同心度校正

標靶識別對位

將可識別的形狀,圖案或標記定義為用於定位和工具自動對位在全區域或單一區域的參考。

偵測金線位置

識別由於製程公差或晶片貼合而產生位置偏移的元件和超細間距的金線。

失效模式分級

Sigma提供2種解決方案,使失效模式評級更加有效和一致:

  • 在一系列測試之後,操作員可以使用顯微鏡或高解析攝影機一步一步完成所有分級。
  • Sigma可以更進一步進行自動判定失效模式(自動分級)。

失效模式自動分級

在分級軟體幫助下,自動對測試結果的圖像,進行失效模式分級。 光學檢查並計算殘餘的錫/金/銅料面積佔整體的百分比。

影像量測 (AOI)

詳細的光學檢查可幫助您執行圖像測量或擷取測試結果的失效模式。 要進行更高級的影像處理,過濾,分割和形狀檢測,可以使用自動光學檢查(AOI)功能。

資料匯出

使用自動匯出和SECS / GEM進行追蹤和控制,改善數據處理。

xyztec 產品線

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