Patente

Innovative Technologien

xyztec patente

Das engagierte Forschungs- und Entwicklungsteam von xyztec stellt traditionelle Ansätze in Frage und hat viele innovative Technologien entwickelt, die eine Vielzahl von Möglichkeiten zur Verbesserung der Verbindungstests bieten. Einige dieser Entwicklungen sind durch Patente geschützt, die in Europa, den Vereinigten Staaten von Amerika, China, Taiwan und / oder anderen Gebieten erteilt wurden.

Patente xyztec

Digitale Kriech- und Driftkorrelation

NL2016315, WO2017146566, PCT/NL2017/050081, EP3420329, US20190072441

Sensorüberwachung zum Bestimmen einer Verformung aufgrund von Kriechen im Ausgang des Sensors, in der die Sensorüberwachung Kraftmittel umfasst, die zum Aufbringen einer mechanischen Kraft auf den Sensor angeordnet sind, wobei der Sensor zum Messen einer Verschiebung des Sensors, die durch eine Messung verursacht wird.

Bei einer Strommessung angeordnet ist wobei die aufgebrachte Kraft und eine Prozessorkomponente angeordnet sind, um die Verformung aufgrund des Kriechens für eine nächste Messung durch den Sensor zu bestimmen.

Improvements to high force die shear tooling

EP2473832, WO2011028107, CN102770747, ZL201080049812.5, PCT/NL2010/050545

Eine Testvorrichtung zum Schertest Halbleiterchip, der an ein Substrat gebunden ist. Der Scherblock ist selbstausrichtend und aus einem weichen Material hergestellt, um die durch die Testlast verursachten Belastungen der Matrize zu minimieren, wodurch Schäden an der Matrize verringert oder beseitigt werden. Verschiedene Scherblockkonstruktionen können für unterschiedliche Anwendungen hergestellt werden, wobei die Scherfläche so angepasst wird, dass entweder eine einzelne Chips, sehr nahe beieinander liegende Chips oder eine gestapelte Chips getestet werden. Die Tiefe der Scherfläche kann geringer sein als die Scherfläche, um sicherzustellen, dass die Verbindungsfläche während des Tests nicht durch Block beschädigt wird.

Kontrollierte Scherhöhe
Selbstausrichtender Scherblock

Lot-Reinigungs-System

WO2016012357, PCT/EP2015/066389, CN2017022201023170, CN107073527, GB20140013225, US20170209903

The present invention provides a method of cleaning solder from the jaws of a solder ball test device. The method comprising the steps of heating a gas to a temperature above the melting temperature of the solder and directing the heated gas over the jaws of a solder ball test device to remove solder from said jaws. An apparatus which for carrying out the method is also disclosed.

CBP-jaw-cleaner

A method for determining a strength of a bond and/or a material as well as a bond tester apparatus

WO2017/099590, PCT/NL2016/050850, CN108700502, US20180364151

This invention is for a method of improving accuracy when measuring a force of changing magnitude where said force is measured by a change in a part of the sensors position which is a function of said force. It also provides a method that may reduce adverse effects, commonly referred to as „ringing“ or „artefacts“ when any type of signal is filtered.

Verbesserung der Scher-Höhen Genauigkeit

WO2019235924, NL2021048

A bond tester apparatus arranged for determining a strength of a bond and/or a material present on a base, said bond tester apparatus comprising a force measurement module for applying a shear force to said bond and/or said material, and a displacement module and a controller arranged for controlling the distance between the force measurement module and the displacement module such that the shear height of a shear tool can be set.

Links: Espacenet

Keine Kontaktschertests

WO2018139930 (A1)

A method of calibrating a sensor of a materials tester, wherein said sensor is arranged to measure a shear force applied by a tool of said materials tester to a sample, for example a wafer or a printed circuit board, said materials tester comprising a shear sensor mount, wherein said sensor is mountable on said shear sensor mount, wherein said method comprises the steps of accelerating said shear sensor mount over a predefined distance towards and/or away from said sample; measuring, by said sensor, a relative movement of said shear sensor mount; calibrating said measured relative movement to an acceleration of said shear sensor mount, thereby testing operation of said sensor.

Links: Espacenet

None Contact Shear Testing

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Volker Loibl